靜電放電試驗評估電子設(shè)備對人體接觸或者環(huán)境中產(chǎn)生的靜電的抗干擾能力。
靜電放電試驗主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時所引起的放電(直接放電),以及人或物體對設(shè)備鄰近物體的放電(間接放電)時對設(shè)備工作造成的影響。靜電放電時可以在0.5~20ns的時間內(nèi)產(chǎn)生1~50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時間很短,故能量很小。所以一般靜電放電不會對人產(chǎn)生傷害,但對集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。
氣候環(huán)境:環(huán)境溫度15°C ~30 °C;
相對濕度30%~60%;
大氣壓力86kPa ~ 106kPa;
電磁環(huán)境:不影響試驗結(jié)果的環(huán)境。
試驗布置
雖然靜電放電試驗非常容易,但它是所有EMC測試項目中重復(fù)性最低的測試項目之一。
在做靜電放電測試時,經(jīng)常會碰到這種情況:同一個被測品在A實驗室通過了,但是在B實驗室卻通不過,導(dǎo)致此種情況的原因,可以總結(jié)分析出以下幾種可能:
①由于測試設(shè)備的不同,導(dǎo)致測試結(jié)果的不同
②由于測試環(huán)境的不同,導(dǎo)致測試結(jié)果的不同
③由于測試人員的不同,導(dǎo)致測試結(jié)果的不同
靜電放電電流波形的規(guī)定,主要的四個關(guān)鍵指標(biāo)為:首次峰值電流Ip;上升時間Tr;30ns時的電流值I30;60ns時的電流值I60。從上表中可以看出這四個指標(biāo)的容許偏差都較大,首次峰值電流Ip為±15%,上升時間Tr為±25%,30ns時的電流值I30為±30%,60ns時的電流值I60為±30%。
接觸放電、空氣放電
試驗等級:
規(guī)定接觸放電等級有:2kv、4kv、6kv、8kv、開放等級(用戶指定)
空氣放電等級:2kv、4kv、8kv、15kv、開放等級(用戶指定)
試驗標(biāo)準(zhǔn):
電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗 GB/T17626.2-2018,IEC 61000-4-2:2008
A級:功能和性能沒有任何影響;
B級:功能或性能有暫降,可以自動恢復(fù);
C級:功能或性能有暫降,需要人為干預(yù)才能恢復(fù);
D級:硬件損壞,不可恢復(fù)。
1、確認(rèn)產(chǎn)品具備典型的工作狀態(tài);
2、按臺式設(shè)備還是落地式設(shè)備進(jìn)行試驗;
3、確定施加靜電放電的部位、施加接觸放電還是空氣放電、施加放電的次數(shù)是多少;
4、依據(jù)的檢測標(biāo)準(zhǔn)、確定測試的等級、采用的試驗判據(jù)。