靜電放電抗擾度測試是指在模擬實(shí)際使用環(huán)境中，對被測設(shè)備施加不同強(qiáng)度的靜電放電脈沖，并觀察其性能變化和故障現(xiàn)象，以判斷其抗擾度等級(jí)的測試。靜電放電抗擾度測試是電磁兼容（Electromagnetic Compatibility，簡稱EMC）測試的一部分，也是國際上通用的一種測試方法。
1、測試設(shè)備：主要包括ESD發(fā)生器、接地系統(tǒng)、測量儀器等。
2、測試方法：主要包括接觸放電法和空氣放電法。接觸放電法是指將ESD發(fā)生器的放電極直接接觸到被測設(shè)備的金屬部件或?qū)w表面上，產(chǎn)生一個(gè)接觸放電脈沖?？諝夥烹姺ㄊ侵笇SD發(fā)生器的放電極盡可能快地接近并觸及受試設(shè)備（不要造成機(jī)械損傷），期間可能會(huì)產(chǎn)生一個(gè)空氣放電火花。
3、測試點(diǎn)：主要包括垂直耦合平面（Vertical Coupling Plane，簡稱VCP）、水平耦合平面（Horizontal Coupling Plane，簡稱HCP）和被測設(shè)備本身等。
4、測試參數(shù)：主要包括放電極形狀、放電極重復(fù)頻率、放電脈沖極性、放電脈沖幅值、放電脈沖波形等。
5、測試過程：主要包括選擇測試方法、選擇測試點(diǎn)、選擇測試參數(shù)、施加靜電放電脈沖、記錄測試結(jié)果等。
6、測試結(jié)果：主要包括被測設(shè)備的性能變化和故障現(xiàn)象，以及其對應(yīng)的抗擾度等級(jí)。根據(jù)IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)，抗擾度等級(jí)分為四級(jí)，分別對應(yīng)不同的放電脈沖幅值。
在實(shí)際進(jìn)行靜電放電抗擾度測試時(shí)，可能會(huì)遇到一些常見問題，例如：
1、被測設(shè)備無法正常啟動(dòng)或運(yùn)行
2、被測設(shè)備出現(xiàn)死機(jī)、重啟、復(fù)位等現(xiàn)象
3、被測設(shè)備出現(xiàn)誤動(dòng)作、誤報(bào)警、誤顯示等現(xiàn)象
4、被測設(shè)備出現(xiàn)功能丟失、性能下降、數(shù)據(jù)丟失等現(xiàn)象
5、被測設(shè)備出現(xiàn)燒毀、損壞等現(xiàn)象
1、被測設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位沒有良好的接地或屏蔽，導(dǎo)致靜電放電直接侵入內(nèi)部電路
2、被測設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位有縫隙、孔洞等，導(dǎo)致靜電放電形成火花，產(chǎn)生強(qiáng)烈的輻射干擾
3、被測設(shè)備的內(nèi)部電路沒有采用合適的保護(hù)器件，導(dǎo)致靜電放電造成器件損壞或性能下降
4、被測設(shè)備的內(nèi)部電路沒有采用合理的布局、走線、濾波等措施，導(dǎo)致靜電放電造成信號(hào)干擾或噪聲
5、被測設(shè)備的軟件沒有采用有效的檢測、處理、恢復(fù)等機(jī)制，導(dǎo)致靜電放電造成程序錯(cuò)誤或死循環(huán)
針對上述可能出現(xiàn)的問題，可以采用以下一些整改方案：
1、對被測設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位進(jìn)行良好的接地或屏蔽，防止靜電放電直接侵入內(nèi)部電路
2、對被測設(shè)備的外殼、按鍵、接口等部位進(jìn)行密封或覆蓋，防止靜電放電形成火花，產(chǎn)生強(qiáng)烈的輻射干擾
3、對被測設(shè)備的內(nèi)部電路采用合適的保護(hù)器件，如TVS管、ESD防護(hù)器件等，防止靜電放電造成器件損壞或性能下降
4、對被測設(shè)備的內(nèi)部電路采用合理的布局、走線、濾波等措施，減少靜電放電造成的信號(hào)干擾或噪聲
5、對被測設(shè)備的軟件采用有效的檢測、處理、恢復(fù)等機(jī)制，防止靜電放電造成程序錯(cuò)誤或死循環(huán)
