EMC檢測(cè)EN61326標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試可找誰(shuí)辦理？我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)可以辦理。近年來(lái)，EN 61326-1已被歐盟官方期刊采用并發(fā)布，最新的EN 61326-1：2013標(biāo)準(zhǔn)取代了EN 61326-1：2006，并于2015年8月14日成為強(qiáng)制性要求。EN 61326-1：2013相當(dāng)于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61326-1：2012。由于此標(biāo)準(zhǔn)是測(cè)量，控制和實(shí)驗(yàn)室設(shè)備的適用標(biāo)準(zhǔn)，因此此更新會(huì)影響大量設(shè)備。需要做EN61326標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試歡迎來(lái)電4008-707-283聯(lián)系我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)進(jìn)行辦理。

EN61326-1性能標(biāo)準(zhǔn)：

性能標(biāo)準(zhǔn)A和B中定義的第一部分在EN 61326-1中保持不變。但是，2013版增加了與“允許的性能損失”相關(guān)的部分。如果制造商未確定最低性能級(jí)別或允許的性能損失，用戶可以根據(jù)設(shè)備或產(chǎn)品文檔的合理期望推斷它們。換句話說(shuō)，產(chǎn)品的功能仍然可以通過(guò)2006版本中指定的用戶干預(yù)來(lái)恢復(fù) - 這個(gè)版本只是有額外的措辭來(lái)澄清。

EN61326-1排放標(biāo)準(zhǔn)：

2006版本參考CISPR 11：2003，而2013版本參考CISPR 11：2009 + A1：2010。CISPR 11：2009的第一次修訂已經(jīng)為“小型設(shè)備”在3米測(cè)試距離處建立了替代輻射發(fā)射限值，其中“小型設(shè)備”被定義為適合于距離地平面1.5米的圓柱形測(cè)試體積和1.2米的設(shè)備。放在平坦表面上時(shí)的直徑。

EN61326-1基本環(huán)境中的免疫力：
靜電放電（ESD）的測(cè)試水平從EN 61636-1：2006中的±4 kV接觸放電和±4 kV空氣放電增加到EN 61326-1：2013中的±4 kV接觸放電和±8 kV空氣放電。這一變化旨在使標(biāo)準(zhǔn)更接近非實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。

對(duì)于磁敏設(shè)備，EN 61326-1：2013增加了對(duì)工頻磁抗擾度（IEC 61000-4-8）的新要求，測(cè)試水平為3A / m。受影響的設(shè)備類型包括霍爾效應(yīng)傳感器和磁繼電器。

EN61326-1工業(yè)環(huán)境的免疫力：

2013版中的每個(gè)訂單項(xiàng)現(xiàn)在都有符合2006標(biāo)準(zhǔn)的性能標(biāo)準(zhǔn)。沒(méi)有進(jìn)行任何其他更改，使此部分基本相同。

受控EM環(huán)境的免疫性：

EN 61326：2006有一個(gè)名為“Measurement I / O”的端口類別，允許制造商定義測(cè)試級(jí)別（即沒(méi)有強(qiáng)制測(cè)試級(jí)別），并在產(chǎn)品文檔中說(shuō)明EUT的測(cè)試級(jí)別。在EN 61326：2013中，此端口類別已被刪除。因此，先前屬于“測(cè)量I / O”類別的端口現(xiàn)在將屬于剩余的“I / O信號(hào)/控制”類別，其中所需的測(cè)試級(jí)別由標(biāo)準(zhǔn)定義，而不是由制造商。

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