顯示屏鹽霧測試報告辦理，鹽霧試驗GB/T2423.17-2008/IEC60068-2-11：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法：試驗Ka：鹽霉

本試驗適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽露腐蝕的能力。

本試驗也適用于評定保護性能涂層的質(zhì)量以及均勻性。

使用時應(yīng)考慮以下的限制：
1.本試驗不適合作為通用的鹽露腐獨試驗；

2.本試驗也不適用于在含鹽大氣中使用的單個試驗樣品的評定。

對于設(shè)備以及零部件，試驗提供了更符合實際情況的試驗條件以及單個試驗樣品的評定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規(guī)范要求個別試樣采用本試驗方法時，試樣應(yīng)當作為整個組件或者設(shè)備的組成部分連同實際的保護性能設(shè)備一起進行試驗。

試驗做用的鹽溶液濃度為百分之五，試驗溫度為35度，鹽溶液的PH值為6.5-7.2之間。

試驗期間，每個試驗樣品不應(yīng)接觸，也不能與其他金屬部件接觸，因此試樣應(yīng)安放好以消除部件之間的影響。

所有的暴露區(qū)域都應(yīng)維持鹽霉條件，用面積80cm2的器皿在暴露區(qū)域的任何一點連續(xù)收集至少16小時的霧化沉積溶液，平均每小時收集量應(yīng)在1mL-2mL之間。至少采用兩個收集器皿，器皿放置的位置不應(yīng)受試樣的遮擋，以避免收集到試樣上的凝結(jié)的溶液，器皿內(nèi)的溶液可用于測試PH值和濃度。
鹽霧試驗的時間一般為：16h，24，48，96，148，336，672小時。