1、IEC60747-5半導體分立器件及集成電路（1992）；
2、IEC60747-5-2半導體分立器件及集成電路零部件，5-2：光電子器件--分類特征及要素（1997-09）；
3、IEC60747-5-3半導體分立器件及集成電路，5-3：光電子器件--測試方法（1997-08）；
4、IEC60747-12-3半導體分立器件，12-3：光電子器件-顯示用發(fā)光二極管空白詳細標準（1998-02）；
5、CIE127-1997LED測試方法（1997）；
6、CIE/ISOLED強度測試標準。
國際照明委員會（CIE）1997年發(fā)表的CIE127-1997LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，為LED的準確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE127-1997測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的LED技術(shù)特性在CIE127-1997LED測試方法中沒有涉及。
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